測(cè)試光纖損耗過(guò)大怎么辦?影響光纖損耗因素
福祿克FLUKE的DTX-1800，DTX-1200，DTX-LT，老款FLUKE4000/4100/4300、OTDR、光源光功率計(jì)功能：
1. 可提供雙絞線5類、超5類、6類、6A以及7類損耗的福祿克測(cè)試；
2. 光纖單模、多模衰減的光纖測(cè)試和光纖斷點(diǎn)測(cè)試。
3. 并附有福祿克測(cè)試或OTDR測(cè)試報(bào)告！　　
影響光纖熔接損耗的主要因素：
　　影響光纖熔接損耗的因素較多，大體可分為光纖本征因素和非本征因素兩類。
　　1．光纖本征因素是指光纖自身因素，主要有四點(diǎn)。
　　（1）光纖模場(chǎng)直徑不一致；
　　（2）兩根光纖芯徑失配；
　　（3）纖芯截面不圓；
　　（4）纖芯與包層同心度不佳。
　　其中光纖模場(chǎng)直徑不一致影響*大，按CCITT(國(guó)際電報(bào)電話咨詢委員會(huì))建議，單模光纖的容限標(biāo)準(zhǔn)如下：
　　模場(chǎng)直徑：（9~10μm）±10％，即容限約±1μm；
　　包層直徑：125±3μm；
　　模場(chǎng)同心度誤差≤6％，包層不圓度≤2％。
　　2．影響光纖接續(xù)損耗的非本征因素即接續(xù)技術(shù)。
　　（1）軸心錯(cuò)位：?jiǎn)文９饫w纖芯很細(xì)，兩根對(duì)接光纖軸心錯(cuò)位會(huì)影響接續(xù)損耗。當(dāng)錯(cuò)位1.2μm時(shí)，接續(xù)損耗達(dá)0.5dB。
　　（2）軸心傾斜：當(dāng)光纖斷面傾斜1°時(shí)，約產(chǎn)生0.6dB的接續(xù)損耗，如果要求接續(xù)損耗≤0.1dB，則單模光纖的傾角應(yīng)為≤0.3°。
　　（3）端面分離：活動(dòng)連接器的連接不好，很容易產(chǎn)生端面分離，造成連接損耗較大。當(dāng)熔接機(jī)放電電壓較低時(shí)，也容易產(chǎn)生端面分離，此情況一般在有拉力測(cè)試功能的熔接機(jī)中可以發(fā)現(xiàn)。
　　（4）端面質(zhì)量：光纖端面的平整度差時(shí)也會(huì)產(chǎn)生損耗，甚至氣泡。
　　（5）接續(xù)點(diǎn)附近光纖物理變形：光纜在架設(shè)過(guò)程中的拉伸變形，接續(xù)盒中夾固光纜壓力太大等，都會(huì)對(duì)接續(xù)損耗有影響，甚至熔接幾次都不能改善。
　　3．其他因素的影響。
　　接續(xù)人員操作水平、操作步驟、盤(pán)纖工藝水平、熔接機(jī)中電極清潔程度、熔接參數(shù)設(shè)置、工作環(huán)境清潔程度等均會(huì)影響到熔接損耗的值。
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